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簡要描述:A22NeXT 新型激光粒度儀精確測量粒徑變得非常簡單 - 即使只經(jīng)過簡短的說明且沒有操作經(jīng)驗的員工(例如,在收貨或運輸部門工作的員工),A22其強大的產(chǎn)品性能將發(fā)揮他的優(yōu)勢。使用前僅需簡單介紹就能夠使用了;絕大多數(shù)操作設備能夠自動運行。
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A22NeXT 新型激光粒度儀 的 優(yōu) 勢
• 契合您需求的測量范圍
• ANALYSETTE 22 NeXT 微米型 0.5–1500 µm
• ANALYSETTE 22 NeXT 納米型 0.01–3800 µm
• 測量時間短,準確度高
• 穩(wěn)定的重復性,有可靠的數(shù)據(jù)可比性
• 可移動部件少,大大提升了耐用性能,維護率低
• 操作簡單便捷,沒有死角設計保證清潔無殘留
• 設計緊湊,節(jié)省空間
全新升級的 A22NeXT 新型激光粒度儀 可以讓您根據(jù)自己的需求選擇測量范圍:ANALYSETTE22 NeXT 微米型測量范圍為0.5–1500 µm,用于大多數(shù)常規(guī)樣品的測量需求;擁 有 更 大 測 量 范圍 的ANALYSETTE 22 NeXT 納米型,測量范圍拓展至0.01-
3800μm,納米型激光粒度儀擁有高的測量精度,附加的檢測器能夠更靈敏的分辨極小的顆粒。
滿足您需求的決定性優(yōu)勢: 操作和清洗非常簡單,分析時間短,可靠的測量結(jié)果和重復性,也可以記錄額外的測量數(shù)據(jù)如濕法分散過程中體系的溫度及PH值,以較值的價格提供先進的技術(shù),它將是您的明智選擇!
一鍵即可操作:借助ANALYSETTE 22 NeXT,精確測量粒徑變得非常簡單 - 即使只經(jīng)過簡短的說明且沒有操作經(jīng)驗的員工(例如,在收貨或運輸部門工作的員工),A22其強大的產(chǎn)品性能將發(fā)揮他的優(yōu)勢。使用前僅需簡單介紹就能夠使用了;絕大多數(shù)操作設備能夠自動運行。
FRITSCH 優(yōu) 勢
結(jié)構(gòu)設計
經(jīng)過巧妙升級的測量單元設計使ANALYSETTE 22 NeXT特別緊湊且節(jié)省空間。
FRITSCH 優(yōu) 勢
極短的測量時間
ANALYSETTE 22 NeXT可以在不到一分鐘的時間內(nèi)完成大多數(shù)測量,包括可靠的沒有死角清潔。
FRITSCH 優(yōu) 勢
全自動分析
粒度分析的完整計算分析會自動進行,并在屏幕上直接將清晰的結(jié)果呈現(xiàn)給您。 當然,您也可以保存并打印出根據(jù)需要定制的報告。
杰出的售后支持
購買ANALYSETTE 22 NeXT之后,我們將提供安裝,定制軟件詳細信息和培訓 – 我們的服務將快速而靈活。
FRITSCH總部的專家可通過遠程維護為您提供幫助。
可 靠 的 測 量 結(jié) 果
國際標準認證的高重復性
The ISO 13320 (激光粒度儀-激光衍射法) 對于激光粒度儀的重現(xiàn)性、重復性以及測量精度界定了一個低的標準,通過這個標準檢驗測量的準確程度及可信度。FRITSCH ANALYSETTE 22 NeXT 嚴格符合甚至性能遠高于 ISO 13320 的要求。 這是 FRITSCH 的一貫作風。
標準樣品顆粒
激光衍射測量粒徑是基于基本的物理關系,也就是說,從嚴格意義講,不需要儀器的校準。然而,測量儀器應定期檢測,以確保其功能可靠。為此,使用了各種標準顆粒材料,以便對整個系統(tǒng)進行簡單、快速和可靠的檢查,來確保不同的應用和粒徑范圍。
標準顆粒材料由FRITSCH提供,并與測量說明書一起交付,且附有粒徑的上限和下限的標準。上限和下限被國際的程序所確定(NIST 可追溯)。
關于 ISO 13320:
• 描述了基本的測量原理
• 概述了光學設計(激光衍射儀/粒度分析儀)的幾種變體• 提供使用適當?shù)墓馍⑸淅碚摚ǚ颥樅藤M衍射或米氏散射)的標準
• 定義對測量結(jié)果的準確性,可重復性和可重復性的檢查
• 提供優(yōu)化測量程序的建議
完 善 的 測 量 技 術(shù)
兩種測量單元用于不同的測量范圍
迄今為止,最新的 ANALYSETTE 22 NeXT 的運行方式與每個FRITSCH激光粒度儀一樣,采用的是FRITSCH發(fā)明的反向傅立葉設計,該設計現(xiàn)已確立為激光粒度儀設計通用標準。您的優(yōu)勢:在測量單元和檢測器之間沒有額外的光學元件。設計緊湊,部件最少,幾乎無需維護。
測量過程的強大優(yōu)勢:
• 僅使用單一波長光源:簡單,可靠,減小干涉誤差• 快速同時記錄所有散射數(shù)據(jù)
• 通過先進的16位轉(zhuǎn)換器技術(shù)對光強度進行高精度記錄
• 通過智能測量池設計還可以記錄非常寬的散射角
• 兩種型號具有不同的測量范圍
• 連續(xù)記錄激光輸出
• 快速自動光束調(diào)整
FRITSCH 優(yōu) 勢
單一波長激光光源 – 更快的測量
ANALYSETTE 22 NeXT 只使用單一波長的激光器工作,即使向后散射。因此,僅一次掃描即可記錄整個測量范圍。 這樣可以大大加快工作速度–必要時可以同時進行更多測量。并實時查看測量結(jié)果如何發(fā)展。
FRITSCH 優(yōu) 勢
極大的測量角度
在ANALYSETTE 22 NeXT中,測量單元與激光束的設置成一定角度,從而可以記錄到更大的散射角范圍。這項技術(shù)在納米范圍內(nèi)提供了高的分辨率和準確性,并進一步優(yōu)化了相關算法。
FRITSCH 優(yōu) 勢
高效數(shù)據(jù)采集
ANALYSETTE 22 NeXT 具有先進的電子技術(shù),其測量核心是極快的高分辨率轉(zhuǎn)換器,可同時記錄所有檢測器元件的信號。能夠在極短的時間將所有的散射光分布信號有效傳輸,掃描頻率可達到2K.z
FRITSCH 優(yōu)勢 極易清洗的樣品測量池
ANALYSETTE 22 NeXT的測量單元為實用的盒狀設計,可從儀器前方直接插入,無需使用復雜的工具即可輕松裝卸。
外部密封配件的拆卸也非常簡單,使其清潔過程極為方便快捷。測量池玻璃的更換可以在任何時間進行。
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